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增駿XAD-200全自動型膜厚儀介紹：

增駿XAD-200全自動型膜厚儀既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入優良的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。

XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入優良的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

產品優點：

搭載微聚焦加強型X射線發生器和優良的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm2

擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm

核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

配備全自動可編程移動平臺，可實現無人值守，對成百上千個樣品進行全自動檢測

涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

RoHS、鹵素有害元素檢測

人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

標配四準直器自動切換

配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%

XAD-200廣泛應用于半導體行業、新能源行業、5G通訊、航天航空、環保行業、汽車行業、衛浴行業、精密電子等